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微区X射线荧光光谱仪Atlas
微区X射线荧光分析仪Atlas,作为一款能量色散型X射线荧光分析仪(EDXRF),Atlas的空间分辨率、操作自动化,束斑尺寸等诸多性能指标表现优异,目前Atlas有两个型号M和X(尺寸更大)。
微区X射线荧光光谱仪Atlas
主要技术参数
电路板的X射线面分布图,(Cu, Br, Ti, Ca, Fe, Sn, Ni, Zn)
介绍: IXRF专注于精确地微区痕量元素分析产品,包括齐全的能谱仪(EDS)和X射线荧光(XRF)。
在硬件方面,作为一款台式XRF,Atlas-M型号的体积为890×560×560mm,具有较大的样品仓体积,相对应的是较大的样品台行程以及最重的载重量,而与此同时,却可以将样品台的移动速度提升到300mm/s,移动精度≤1μm。 其采用的毛细管聚焦技术,可将束斑缩至5μm,另外也可通过选用准直器等配件,使束斑在5μm—1000μm之间的范围内可调;其多大8片的滤波片选择,可满足更多的分析需求。 在软件方面,作为曾因其软件研发能力而获得英国政府颁发的千禧年大奖的公司,IXRF在Atlas操作软件的开发上沿袭了其一贯的专业性及开放性。在数据的获取及处理上,可实现数据的一键采集,或自动或手动的鉴别样品成分,并利用FP建模或quantitative match等功能实现样品成分的定量分析;在图像处理方面,不仅可对获取的图像进行拼接,还可实现相分析、特征颗粒筛选、特征颗粒形态学上的测量及成分分析等功能;在面分布及线扫描方面,可同时获得多达35种元素的信息,并且实现单像素的谱图数据采集,并可保存下来,后续仍可继续对此数据进行点线面等处理。 在应用方面,可在各种环境,如大气、真空以及氦气等气氛下分析多种类的样品,无论是固体、液体、颗粒、粉末,样品大小,抛光与否,表面粗糙与否皆可轻松胜任,且实现无损分析。 鉴于Atlas的突出的性能特点,其被广泛的应用到地矿文博、电子器件、环境监测、刑侦医学、医药检测等方面。
Atlas-M型号技术参数
样品类型 | 固、液、颗粒、粉末 |
测试介质 | 空气、真空、氦气 |
激发源 | 12-50W, 0-50kV, 200 μA-1mA |
激发源参数: 靶材 束班尺寸 滤片 | 多毛细管或准直器 铑(其他可选) 5μm-1000μm连续可调 8片 |
探测器 分辨率 活区面积 | SDD 135-145ev 50-150mm2 |
样品台 | X、Y、Z三轴可动 320X320mm可移动范围 载重10Kg |
Mapping最大尺寸 样品移动速度 | 220X200mm 300mm/s |
元素分析范围 | Na-U |
特点:
1、 束斑尺寸最小可达5μm;
2、 大样品台行程(320×320×120mm),移动速度可达300mm/s;
3、 多达8片的滤波片选择;
应用领域:
1、 地矿文博;
2、 电子器件;
3、 刑侦医学;
4、 医药检测;
5、 环境监测。
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